安徽技術(shù)支持ACCRETECH表面紋理和輪廓測量儀器SURFCOM CREST DX/SD系列
特征
高度穩(wěn)定的光路激光干涉儀
該測量機(jī)采用了東京精密的主要技術(shù)之*的基于光纖的激光干涉儀,并采用了新開發(fā)的高穩(wěn)定性光路激光干涉儀,分辨率為 0.31 nm。
該系統(tǒng)具有 42,000,000:1 的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率。這意味著您可以在單條軌跡中評(píng)估寬范圍內(nèi)的輪廓輪廓以及隱藏的精細(xì)表面。
直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)(**)
直線電機(jī)驅(qū)動(dòng)確保高精度和高速運(yùn)動(dòng)。
此外,低振動(dòng)確保在高倍率下更穩(wěn)定的測量。
在*次測量中分析粗糙度和輪廓
在提高測量效率的同時(shí)保持高精度。
大范圍
200 mm(水平方向)和 13 mm(垂直方向)的寬測量范圍
也可提供電動(dòng)傾斜裝置,可傾斜至 45°。(SURFCOM CREST-T)
晶圓制造
ACCRETECH-TOKYO SEIMITSU 主要從事銷售:晶圓切片機(jī)等設(shè)備,將硅晶錠切割成稱為晶圓的硅襯底,并在其上進(jìn)行半導(dǎo)體加工;以及對(duì)晶片邊緣進(jìn)行倒角的晶片邊緣研磨機(jī)。
前端
半導(dǎo)體制造商 70% 以上的投資投入到半導(dǎo)體生產(chǎn)中必不可少的前端或晶圓加工。Tokyo Seimitsu 通過支持**測試和后端設(shè)備,并提供前端設(shè)備(如 CMP 等平面化晶圓表面的設(shè)備),在此過程中擁有久經(jīng)考驗(yàn)的經(jīng)驗(yàn)。
晶圓測試
在晶圓測試中,我們的探測機(jī)可對(duì)晶圓上各種器件的電氣特性進(jìn)行 100% 檢測。
后端
后端處理是指組裝和*終測試。ACCRETECH-TOKYO SEIMITSU 制造和銷售在單*設(shè)備中結(jié)合了******的晶圓厚度和損傷去除功能的拋光研磨機(jī),用于背面研磨工藝以拋光晶圓背面。我們亦從事晶圓切割機(jī)的制造及銷售,以將具有微觀電路圖案的晶圓切割成單個(gè)芯片。