HORIBA堀場集團向各行業(yè)領(lǐng)域提供高品質(zhì)的分析與測試儀器，49家分公司遍布全球27個國家。
我們的業(yè)務(wù)涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢，尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質(zhì)控以及臨床診斷等領(lǐng)域。過去幾年來，我們?nèi)〉昧碎L足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是，我們的分析和測量業(yè)務(wù)為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻，并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產(chǎn)品。
擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神，以充沛的體力和激情投入到工作中去，譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業(yè)哲學，這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人（這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人）是我們企業(yè)發(fā)展的源泉，他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學，并在日常工作和生活中很好地貫徹。
我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會做出貢獻。
拉曼成像和光譜儀
顯微拉曼光譜大家族
HORIBA Scientific在拉曼光譜領(lǐng)域有超過50 年的專業(yè)經(jīng)驗。拉曼光譜可以對固體、粉末、氣體進行快速無損的化學分析，今天，拉曼光譜被應(yīng)用到各個領(lǐng)域，從基礎(chǔ)研究到應(yīng)用解決方案。
我們提供完整的拉曼解決方案，可應(yīng)用于分析測量、研究級拉曼、紫外拉曼、QC/QA和工業(yè)拉曼應(yīng)用。這些包括拉曼光譜儀，聯(lián)用拉曼系統(tǒng)(如AFM-Raman)，模塊化拉曼系統(tǒng)，傳輸拉曼分析儀，定制的現(xiàn)場過程拉曼光譜儀，以及用于大批量OEM制造商的微型化拉曼儀器。我們的拉曼光譜儀器被用于世界各地的大學、研究實驗室和要求苛刻的行業(yè)，生產(chǎn)線遍布全球，并以：
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通過穩(wěn)健的設(shè)計方法獲得穩(wěn)定性/可靠性
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由我們的多項超快成像**功能實現(xiàn)的高性能和速度
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借助我們的LabSpec 軟件套件，易于使用
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改善用戶體驗并在您需要的地方增加自動化，從而節(jié)省時間
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通過將拉曼光譜儀與我們的AFM 技術(shù)相結(jié)合，可以通過 TERS 實現(xiàn)納米級測量
國內(nèi)總代華東總辦事處原裝進口日本江蘇總辦事處HORIBA堀場AFM光學工作站OmegaScope 國內(nèi)各區(qū)域均有售
OmegaScope是一種*新的耦合光學和AFM高分辨、多領(lǐng)域研究的解決方案，它為光譜學和光子學研究人員提供了*新的途徑。它提供直接頂部和側(cè)向光路耦合的反射式配置。OmegaScope搭建了高空間分辨率光譜（拉曼、光致發(fā)光、熒光）和AFM相關(guān)的成像模式耦合的靈活平臺。
拉曼激光和AFM反饋激光相互無干擾
1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光（364-830 nm）毫無相互干擾，并且消除了對可見光敏感生物和光伏樣品的任何寄生影響。
拉曼激光直達懸臂
OmegaScope系統(tǒng)將AFM和光學通道完全分離。這種獨立性不限制拉曼激光所需的波長，與AFM激光通過與拉曼激發(fā)激光相同的高孔徑物鏡的系統(tǒng)相比，簡化了整個系統(tǒng)的調(diào)節(jié)。用戶可以輕松地重新聚焦高NA物鏡，而無需對AFM激光器進行任何額外的重新調(diào)整。OmegaScope的設(shè)計為原子力顯微鏡提供了更高的穩(wěn)定性，降低了對震動和噪聲的靈敏性。
簡單、快速、可重復的懸臂調(diào)整
采用固定式AFM激光器的設(shè)計，激發(fā)激光對懸臂梁針尖的調(diào)節(jié)，簡單快捷。此外，如果安裝相同類型的新懸臂，就可以很容易地找到和掃描樣品表面上的相同區(qū)域（在幾微米的重復性范圍內(nèi)），而無需任何額外的搜索。
自動AFM登記系統(tǒng)調(diào)整
SmartSPM掃描探針顯微鏡是OmegaScope系統(tǒng)反射式機構(gòu)的配置核心，也是**臺從設(shè)計到耦合HORIBA光譜儀的采用激光-懸臂-光電二極管全自動準直的掃描探針顯微鏡。
快速掃描
采用業(yè)界*高的高共振頻率掃描器（XY>7kHz和 Z>15kHz），優(yōu)化的掃描器控制算法可以輕松實現(xiàn)快速掃描。
振動穩(wěn)定性，聲學穩(wěn)定性，高頻的快速掃描器
快速響應(yīng)時間，低漂移和量值溯源。采用業(yè)界*好的平板閉環(huán)掃描器，掃描范圍為100μmx100μmx15μm，單個掃描器可以實現(xiàn)大范圍測量到真正的分子分辨率成像。歸功于掃描器和整個原子力顯微鏡的高機械剛度，即使沒有主動減震保護，也可以保證OmegaScope杰出性能。這些獨特的特性還允許實現(xiàn)特殊和更復雜的掃描算法，如Top模式。在這種模式下，針尖在掃描點之間被提升到樣品表面上方。在每一個掃描點，探針都會回到樣品表面。掃描信號在針尖振蕩幅度達到設(shè)定閾值后立即測量。它可以避免任何橫向力的相互作用，例如保證TERS探針的**性，同時保持掃描率高達1Hz。
輕松更換樣品
OmegaScope AFM平臺設(shè)計允許在不取下FM頭和懸臂支架的情況下更換樣品。它大大提高了實驗的可靠性，避免了操作人員在這類常規(guī)過程中可能出現(xiàn)的錯誤。
頂部和側(cè)向光路照明
頂部和側(cè)向的光學通道均可進入針尖-樣品區(qū)，充分利用紅外、可見光和紫外高NA平消色差物鏡光譜成像能力（頂部物鏡：高達0.7NA；側(cè)向物鏡：高達0.7NA）和原子力顯微鏡相關(guān)技術(shù)，可在寬光譜范圍和*小激發(fā)激光光斑面積內(nèi)，對樣品表面的光信號進行共焦檢測。側(cè)向光路在TERS和TEPL實驗中的成功歸功于OmegaScope系統(tǒng)設(shè)計的合理性，它提供了更重要的電磁場的軸向分量，有效地激發(fā)了針尖-樣品結(jié)中的等離激元共振。
頂部和側(cè)向物鏡掃描器
為了使AFM針尖和拉曼激光束完全對準，平板閉環(huán)XYZ物鏡掃描器可以安裝在頂部、側(cè)向和底部。此外，這種解決方案提供了盡可能高的分辨率、長期穩(wěn)定性和對準自動化，加上更寬的光譜范圍，盡可能少的輸入/輸出系統(tǒng)中的光學元件，從而大大減少了有用光信號的損失。
鎖相環(huán)控制的內(nèi)置DFM測量
動態(tài)力顯微鏡（DFM）模式是OmegaScope系統(tǒng)的標準配置。利用控制器內(nèi)置的鎖相環(huán)（PLL）電路，設(shè)計了一種適用于該模式的調(diào)頻（FM）檢測器。使用DFM可以可靠地保持*小的針尖-樣品相互作用（即在吸引力區(qū)域內(nèi)成像），這對于成功的TERS和掃描近場光學顯微鏡（SNOM）實驗來說是非常關(guān)鍵的。
STM、導電AFM和SNOM選項
與光譜測量同時，OmegaScope可以配備獨特的模塊，使用該模塊可以測量AFM或STM中三個線性范圍（1nA、100nA和10uA）的局部電流。這些范圍可以在軟件中切換，其中每個范圍所需的帶寬可以從100Hz到7kHz進行選擇。在1na和1300nm原子力顯微鏡激光的測量范圍內(nèi)，60fA的導電模塊噪聲級為光電領(lǐng)域的導電性測量樹立了新的標準。
除了OmegaScope平臺的特殊靈活性之外，還提供了基于音叉反饋設(shè)計的SNOM。除了標準的SNOM實驗外，您還可以遵循經(jīng)典的納米光學，特別是無光闌SNOM，使用具有適當偏振的飛秒激光脈沖照明的金屬針尖進行近場熒光成像。
SmartSPM掃描器和基座
閉環(huán)平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)
掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %
噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；
XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關(guān)閉）；
Z<0.04 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）
高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz
X, Y, Z自動趨近：XYZ數(shù)字閉環(huán)控制，Z向馬達趨近距離18mm
樣品尺寸：40 mm x 50 mm x 15 mm
樣品定位：自動樣品臺范圍：5 mm x 5 mm
定位精度：1μm
AFM測試頭HE002
激光波長：1300nm
激光對生物樣品無影響；
激光對光電測量無影響；
系統(tǒng)噪聲：< 0.1 nm
全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；
探針通道：為外部操作和探針提供自由通道；
頂部和側(cè)向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時高達100x，NA0.7側(cè)向物鏡和10x，NA0.28頂部物鏡；
SPM測量模式
標準模式：接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側(cè)向力模式（LFM）、力調(diào)制模式、磁力顯微鏡模式（MFM）、開爾文探針模式（表面電勢，SKM，KPFM）、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式（EFM）、力曲線測量、壓電響應(yīng)模式（PFM）、納米蝕刻、納米操縱
升級模式：溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測
同步Raman的SPM測量模式
空中接觸原子力顯微鏡；
液體接觸原子力顯微鏡（可選）；
空氣中的半接觸原子力顯微鏡；
液體半接觸原子力顯微鏡（可選）；
動態(tài)力顯微鏡（DFM，F(xiàn)M-AFM）；
耗散力顯微鏡；
真正非接觸原子力顯微鏡；
相位成像；
側(cè)向力顯微鏡；
力調(diào)制；
導電原子力顯微鏡（可選）；
單通開爾文探頭；
壓電響應(yīng)力顯微鏡；
STM（可選）；
光電流成像（可選）；
帶音叉的剪切力顯微鏡（ShFM）（可選）；
帶音叉的法向力顯微鏡（可選）。
光譜模式
共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像
針尖增強拉曼光譜（AFM，STM等）
針尖增強熒光
近場光學顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)
電流范圍：100fA~10μA;三檔量程自動切換（1 nA, 100 nA 和 10 μA）
導電力AFM（選購）
電流范圍：100fA~10μA;三檔量程自動切換（1 nA, 100 nA 和 10 μA）
光路耦合通道
頂部和側(cè)向能夠同時使用消色差物鏡：從頂部或側(cè)向*高可用100X，NA0.7物鏡；可同時使用20倍和100倍.
長期光譜激光穩(wěn)定對準的閉環(huán)壓電物鏡掃描器：20μm x 20μm x 15μm；分辨率：1nm