主營產(chǎn)品：代理銷售：HORIBA堀場橢圓偏振光譜儀、HITACHI日立科學(xué)儀器光譜儀、OTSUKA大塚電子、MIKASA勻膠機(jī)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、KOFLOC小島流量計、REVOX光箱、日本SSD防靜電、HITACHI日立金屬流量計、SIBATA柴田科學(xué)、日本ULVAC愛發(fā)科泵、CEDAR思達(dá)扭力計、TORAY東麗氣體濃度計、KOSAKA小坂臺階儀、TOKYOKEISO東京計裝流量計、AND愛安德、RYUKI東京流機(jī)流量計、IMV愛睦威地震儀、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、MITAKA三鷹光器、日本KURABO倉紡濃度計.

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YP-250I鹵素?zé)艄庠碮AMADA山田光學(xué)

YAMADA山田光學(xué)YP-150I, YAMADA山田光學(xué)YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。YAMADA山田光學(xué)YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片YP-150I照度范圍φ30
YAMADA山田光學(xué)YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片YP-250I照度范圍φ60YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白.

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宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

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產(chǎn) 品簡介

YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片

YP-150I照度范圍φ30

YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片

YP-250I照度范圍φ60

YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型

根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源

可檢測各種缺陷如硅片砷化鎵碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 /

霧狀/ 劃傷等，照度在400000Lx以上

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產(chǎn) 品特點

1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).

2. 使用鹵素?zé)糇鳛楣庠?，色溫高達(dá)3400K，照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。

3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2 到 1/3

4. 光束直徑由鏡片調(diào)整30-50mm 之間調(diào)整

5. 底部開光，調(diào)整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量

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產(chǎn) 品用途

YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來

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